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Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個(gè)模塊化和可擴(kuò)展平臺(tái)的光學(xué)測量設(shè)備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
更新時(shí)間：2025-04-08
型號：FR-pRo
廠商性質(zhì)：代理商
瀏覽量：21934
光學(xué)厚度測量儀的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
更新時(shí)間：2024-11-09型號：廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：1746
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更新時(shí)間：2025-04-08型號：廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：2039
薄膜厚度測量的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
更新時(shí)間：2024-11-26型號：FR-Scanner廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：12234
FR-Mic 多層膜厚度測試儀是一款快速、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，可以將光斑縮小到幾個(gè)微米，進(jìn)而分析微小區(qū)域或者粗糙表面薄膜特征。
更新時(shí)間：2024-11-09型號：FR-Mic廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：6104
硬化涂層膜厚儀是一款快 速、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個(gè)微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。
更新時(shí)間：2025-03-07型號：FR-Mic廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：10867